一、測試原理

PCB面銅測厚儀主要采用非破壞性的測試方法，其中較為常見的是電阻式測量設(shè)備和X-ray方法。

電阻式測量設(shè)備：

理論基礎(chǔ)：利用截面積愈大電阻愈小的原理檢測。

操作方式：通過測量銅箔的電阻值，根據(jù)電阻與截面積（即厚度）之間的關(guān)系，計(jì)算出銅箔的厚度。

X-ray方法：

理論基礎(chǔ)：基于一束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用，產(chǎn)生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素的特征。

操作方式：利用X射線光譜方法測定覆蓋層厚度，通過X射線與銅箔的相互作用，測量二次輻射的特征，從而計(jì)算出銅箔的厚度。

二、測試步驟

準(zhǔn)備階段：

選擇合適的PCB面銅測厚儀，確保儀器狀態(tài)良好。

準(zhǔn)備待測的PCB樣品，確保樣品表面清潔、無雜質(zhì)。

測試階段：

將PCB樣品放置在測厚儀的測量平臺上，確保樣品與測量平臺緊密接觸。

根據(jù)儀器操作指南，設(shè)置測量參數(shù)，如測量范圍、測量精度等。

啟動測量程序，開始測試。測試過程中，儀器會自動進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和處理，計(jì)算出銅箔的厚度值。

結(jié)果分析階段：

測試完成后，儀器會顯示銅箔的厚度值。根據(jù)實(shí)際需求，可以對測試結(jié)果進(jìn)行進(jìn)一步的分析和處理。

如果需要，可以將測試結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)值或歷史數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，評估銅箔的質(zhì)量是否符合要求。